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当施設では、放射光を用いた様々な研究活動を行っております。
この最新設備を用いた共用促進事業の利用成果を公開します。
2015年度 成果・報告一覧
[LIGA] 高感度レジストを用いたパターン形成の検討
[LIGA] X線暴露後のPMMAの密着性に関する評価
[分析] ガスクラスターイオンビーム照射された炭素系薄膜の構造分析
[分析] 有機薄膜材料のC、Nに関するXAFS測定
[分析] 銀含有ハイドロキシアパタイト溶射皮膜のCa-K端のXAFS測定
[分析] 機能性シリコンオキシカーバイドの構造解析
[分析] 超軟X線を用いた軽元素材料の蛍光X線分析
[ガンマ線] LCSガンマ線を用いた核共鳴蛍光測定
[ガンマ線] 準重陽子生成過程における(γ,n)光核反応中性子生成2重微分断面積測定
[ガンマ線] レーザー逆コンプトンガンマ線を用いた光中性子断面積測定
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2014年度 成果・報告一覧
[LIGA] テフロン樹脂製微細構造体の形成
[分析] セラミックス中のPrに関するXAFS測定
[分析] 光電子分光法を利用した繊維/樹脂界面の組成分析
[分析] 光反応性高分子液晶薄膜の配向性評価
[分析] 電気部品表面の分析
[ガンマ線] ガンマ線偏光計HARPOの試験
[ガンマ線] 9Beの1/2+準位測定
[ガンマ線] ガンマ線検出器試験
[ガンマ線] LCSγ線による陽電子生成と物性評価
[ガンマ線] 20Ne(γ,n-a)光分解反応の測定
[ガンマ線] 4He原子核の光分解反応断面積の測定
[ガンマ線] 準重陽子生成過程における(γ,n)光核反応中性子生成2重微分断面積測定
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2013年度 成果・報告一覧
[LIGA] ミリ波帯テフロン導波管の開発
[LIGA] 成型モールド用高アスペクト比微細構造体の形成
[LIGA] PTFEの直接放射光エッチングによる成形用金型の作製
[分析] DLC薄膜中のsp2,sp3結合の定量的評価
[分析] 炭素含有材料のXAFS測定
[分析] 基材の表面処理と化学結合状態の評価
[分析] 綿炭化物の分析
[分析] 繊維表面の分析
[分析] 金属炭化物の化学状態分析
[分析] XAFSを利用した炭素化合物の構造解析
[ガンマ線] 20Ne(γ,n-α)光分解反応の測定
[ガンマ線] 4He原子核の光分解反応断面積の測定
[ガンマ線] ガンマ線オプティクスの計測
[ガンマ線] レーザー逆コンプトンガンマ線による光核反応断面積測定
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2012年度 成果・報告一覧
[分析] 熱硬化高分子薄膜の表面解析
[分析] DLC薄膜のNEXAFSによる評価
[分析] 乾燥シリカゲルのXAFS法による局所状態分析
[分析] 全電子収量法による溶射皮膜のXANESスペクトル評価
[分析] 炭化物の分析
[分析] ニュースバル(BL09)の産業利用推進のためのトライアルユース利用
[分析] 微細粒子における酸化状態のXAFS分析
[分析] 真空排気装置中に付着した物質の解明
[分析] ガラス基板上の有機物分析
[分析] ガラス中のMg2+イオンのK端X線吸収測定
[分析] 銅表面でのギ酸還元後の表面状態評価
[分析] 素材の長寿命化を目的としたコーティング膜の分析
[LIGA]高精度高アスペクト構造体作製の検討
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2011年度 成果・報告一覧
[LIGA] LIGA用X線露光の転写パターン形状の研究
[分析] 鉄の酸化状態XAFS分析
[分析] Al/Ni基板上に成膜されたカーボン薄膜の構造分析
[分析] フィラー混練プラスチック中のフィラー観察
[分析] XAFSを利用したポリマーの架橋構造解析
[分析] 炭素系硬質膜の構造解析
[分析] XAFSによるホウ素含有工業材料の構造解析
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2010年度 成果・報告一覧
[EUVL] EUVL用光学素子の反射率測定と透過率測定
[EUVL] La/B4C 多層膜の反射率計測
[EUVL] EUVレジストの開発
[EUVL] EUVL用多層膜光学素子の性能評価
[LIGA] 放射光LIGAによる大面積新型金型の試作検討
[分析] 磁界励起型イオンプレーティング装置を用いて作製したBN薄膜の化学結合評価
[分析] 環境浄化用機能性無機化合物の分子構造及び電子状態解析
[分析] セラミックス燃焼体の副生成物の分析
[分析] 酸化物のキャラクタリゼーション(状態分析)
[分析] 超硬金属中の微量成分の解析
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